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電子計測器・測定器 物理量測定器・計測器 膜厚計

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基準レンタル料
(1カ月)
29,000円
(税別)
メーカー
サンコウ電子研究所
重量
0.4kg
機器仕様
SWTシリーズ用専用プローブ 測定方式:渦電流式,測定範囲:0~8mm,表示分解能:1μm:0~999μm,0.01mm:1~8mm、測定精度:0~3mm±(5μm+指示値の3%)、3.01mm以上:指示値の±3%以内、プローブ:1点定圧接触式、Vカット付、Φ35×59mm、標準厚板・テスト用ゼロ板(非鉄用)付属

基準レンタル料
(1カ月)
25,600円
(税別)
メーカー
サンコウ電子研究所
重量
0.4kg
機器仕様
SWTシリーズ用専用プローブ 測定方式:電磁誘導式,測定範囲:0~10mm,表示分解能:1μm:0~999μm,0.01mm:1~10mm、測定精度:0~3mm±(5μm+指示値の3%)、3.01mm以上:指示値の±3%以内、プローブ:1点定圧接触式、Vカット付、Φ20.4×47.1mm、標準厚板・テスト用ゼロ板(鉄用)付属

基準レンタル料
(1カ月)
28,400円
(税別)
メーカー
サンコウ電子研究所
重量
0.2kg
機器仕様
SWTシリーズ用専用プローブ 測定方式:電磁誘導式,測定範囲:0~600μm,表示分解能:1μm:0~600μm(切り替えにより0.1μm:0~400μm,0.5μm:401~500μm),測定精度:0~100μm±1μmまたは指示値の±2%以内、101μm~600μm:指示値の±2%以内,プローブ:1点定圧接触式、Vカット付、耐熱用(約200℃)、Φ5.6×92.2mm,標準厚板・テスト用ゼロ板(鉄用)付属

基準レンタル料
(1カ月)
69,000円
(税別)
メーカー
サンコウ電子研究所
重量
1.4kg
機器仕様
測定方式 電磁誘導/渦電流式兼用,測定対象:磁性/非磁性金属素地上絶縁被膜, 測定範囲 鉄素地:0~3.00mm,非鉄素地:0~2.50mm 表示分解能 1μm:0~999μm,0.1μm:0~400μm, 0.5μm:400~500μm,0.01mm:1.00~3.00(鉄素地), 1.00~2.50mm(非鉄素地), 測定精度 0~100μm:±1μmまたは指示値の±2%,101μm以上:±2%以内, Op.電磁・渦電流両用式(素地自動判別)プローブ:FN-325,

基準レンタル料
(1カ月)
59,900円
(税別)
メーカー
ケット科学研究所
重量
1.0kg
機器仕様
測定方式:電磁誘導式,測定対象:磁性金属上の非磁性被膜, 測定範囲:0~2500μmまたは99.0mils, 測定精度:50μm未満±1μm,50μm以上1000μm未満±2%,1000μm以上±3% プローブ:一点接触定圧式LEP―J,外部出力:USBまたはRS232C, 電源:単三アルカリ×4,電池寿命:約100時間(バックライト非点灯時,連続使用) オプション:L字型プローブLEP-21L,

基準レンタル料
(1カ月)
74,500円
(税別)
メーカー
サンコウ電子研究所
重量
1.6kg
機器仕様
測定方式 電磁誘導/渦電流式兼用,測定対象:磁性/非磁性金属素地上絶縁皮膜 測定範囲 電磁誘導式0~2.50mm,渦電流式0~2.00mm 表示分解能 電磁誘導1μm:0~999μm,0.1μm:0~400μm, 0.01mm:1.00~2.50mm, 渦電流1μm:0~999μm,0.1μm:0~400μm,0.01mm:1.00~2.00mm, 測定精度 0~100μm:±1μmまたは指示値の±2%,101μm以上:±2%, データ転送方式:USB,測定メモリ:20,000点,統計機能:本体内蔵,質量:本体200g, 電源:単3乾電池×2,専用ACアダプタ,収納ケース付き Op.プローブ:Fe‐2.5,NFe‐2.0,

基準レンタル料
(1カ月)
62,100円
(税別)
メーカー
ケット科学研究所
重量
1.0kg
機器仕様
測定方式 電磁誘導/渦電流式兼用,測定対象 磁性金属上の非磁性被膜およぴ 非磁性金属上の絶縁被膜,測定範囲 電磁誘導式0~2500μmまたは99.0mils, 渦電流方式0~1200μmまたは47.0mils,測定精度 50μm未満±1μm, 50μm以上1000μm未満±2%,1000μm以上±3%,データメモリ数約39,000点 プローブ 一点接触定圧式LEP―J,LHP―J,外部出力USBまたはRS23 2C,電源単三アルカリ×4,約100時間(バックライト非点灯時,連続使用)

基準レンタル料
(1カ月)
24,200円
(税別)
メーカー
ケット科学研究所
重量
1.0kg
機器仕様
名称エスカル 電磁誘導式/渦電流式兼用 対象:磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜 測定範囲:0~2000μmまたは0~80.0mils 測定精度:50μm未満±1μm, 50μm以上1000μm未満±2%,1000μm以上2000μm未満±3% 分解能:100μm未満0.1μm 100μm以上1μm 表示形式:デジタル 表示最小桁0.1μm,データメモリ約1000点,電源単4アル カリ×2,外部出力:PC(USB)プリンタ(RS232C),寸法82×99.5×32mm

基準レンタル料
(1カ月)
99,600円
(税別)
メーカー
ケット科学研究所
重量
2.7kg
機器仕様
電磁誘導式/渦電流式兼用, 対象:磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜, 電磁誘導式0~1500μmまたは60.00mils,渦電流式0~800μmまたは32.00mils, RS232C,AC100V,単3アルカリ乾電池(本体6本,プリンタ4本),プリンタ ○[別途:990091紙]

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